測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:06-29 2023 來自:祥宇精密
探針式測長儀和非接觸式測長儀是兩種常見的長度測量工具。它們在實際應(yīng)用中具有不同的特點和優(yōu)缺點。
一、探針式測長儀
探針式測長儀是一種傳統(tǒng)的測量工具,通常由一個可以伸縮的探針組成。測量時,探針直接接觸被測物體表面,通過測量探針的位移來確定長度。探針式測長儀具有以下特點:
1. 接觸式測量:探針需要與被測物體直接接觸,因此適用于對形狀復雜或表面粗糙的物體進行測量。
2. 精度高:由于探針直接接觸被測物體,可以實現(xiàn)較高的測量精度。
3. 適用范圍廣:探針式測長儀可用于測量長度、深度、孔徑等多種尺寸參數(shù)。
然而,探針式測長儀也存在一些缺點:
1. 損傷表面:由于需要探針與被測物體接觸,可能會對表面造成劃痕或損傷。
2. 使用受限:探針式測長儀在測量過程中需要與被測物體接觸,因此無法用于高溫、易腐蝕或易變形的物體測量。
二、非接觸式測長儀
非接觸式測長儀是一種采用光學或激光技術(shù)進行長度測量的工具。它不需要與被測物體直接接觸,通過測量光信號的反射、散射或干涉來確定長度。非接觸式測長儀具有以下特點:
1. 無損傷:非接觸式測長儀不需要與被測物體接觸,避免了損傷表面的問題。
2. 高速測量:由于采用光學或激光技術(shù),非接觸式測長儀可以實現(xiàn)快速測量,適用于高速生產(chǎn)線上的測量需求。
3. 非接觸式測量:非接觸式測長儀可以用于測量高溫、易腐蝕或易變形的物體,不會對被測物體產(chǎn)生額外的影響。
然而,非接觸式測長儀也存在一些限制:
1. 精度受限:由于光學或激光技術(shù)的局限性,非接觸式測長儀的精度相對探針式測長儀可能會略低。
2. 對環(huán)境要求高:非接觸式測長儀對環(huán)境的要求較高,例如需要穩(wěn)定的光源、無塵的環(huán)境等。
綜上所述,探針式測長儀和非接觸式測長儀在測量方式、適用范圍和精度等方面存在明顯的區(qū)別和優(yōu)缺點。選擇合適的測長儀需根據(jù)具體應(yīng)用場景和要求進行綜合考慮。
參考文獻:
1. 張三, 探針式測長儀
400-801-9255